Działanie nośnika półprzewodnikowego w laptopie opiera się na komórkach pamięci flash, które posiadają ograniczoną liczbę cykli zapisu i kasowania. W nowoczesnych konstrukcjach Gigabyte z serii AORUS, AERO czy Gaming dyski SSD NVMe (Non-Volatile Memory Express, czyli protokół szybkiej komunikacji nośnika bezpośrednio z magistralą płyty głównej) podlegają ciągłemu monitorowaniu przez wbudowany system autodiagnostyki S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology, czyli mechanizm monitorowania i raportowania stanu nośnika danych). Jednym z kluczowych wskaźników telemetrycznych jest Percentage Used. Wartość ta bezpośrednio odzwierciedla stopień wyeksploatowania deklarowanego przez producenta limitu zapisu danych. Prawidłowy odczyt tego parametru pozwala zapobiec nagłej utracie dostępu do systemu operacyjnego oraz bezpowrotnemu uszkodzeniu cennych plików.
Komunikaty rejestrowane przez system autodiagnostyki nośników półprzewodnikowych są wczesnym ostrzeżeniem przed bezpowrotną utratą plików. W nowoczesnych laptopach Gigabyte z serii AORUS, AERO czy Gaming podstawowym magazynem danych są szybkie dyski SSD NVMe, czyli nośniki wykorzystujące protokół pamięci nieulotnej podłączone bezpośrednio do magistrali PCI Express. Protokół ten korzysta ze standardu raportowania kondycji S.M.A.R.T., który różni się od parametrów znanych ze starszych dysków magnetycznych i nośników SATA. Jednym z kluczowych wskaźników stanu pamięci flash w protokole NVMe jest parametr Media and Data Integrity Errors, czyli błędy integralności nośnika i danych. Pojawienie się wartości większej niż zero w tym polu oznacza, że kontroler dysku zarejestrował sytuacje, w których dane zapisane w komórkach pamięci NAND uległy przekłamaniu, a wbudowane mechanizmy korekcji błędów ECC napotkały trudności z ich odzyskaniem.
